Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Elie Maricau · Georges Gielen
tammi 2013 · Springer Science & Business Media
E-kirja
198
sivuja
reportArvioita ja arvosteluja ei ole vahvistettu Lue lisää
Tietoa tästä e-kirjasta
This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed.
The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs.
Arvioi tämä e-kirja
Kerro meille mielipiteesi.
Tietoa lukemisesta
Älypuhelimet ja tabletit
Asenna Google Play Kirjat ‑sovellus Androidille tai iPadille/iPhonelle. Se synkronoituu automaattisesti tilisi kanssa, jolloin voit lukea online- tai offline-tilassa missä tahansa oletkin.
Kannettavat ja pöytätietokoneet
Voit kuunnella Google Playsta ostettuja äänikirjoja tietokoneesi selaimella.
Lukulaitteet ja muut laitteet
Jos haluat lukea kirjoja sähköisellä lukulaitteella, esim. Kobo-lukulaitteella, sinun täytyy ladata tiedosto ja siirtää se laitteellesi. Siirrä tiedostoja tuettuihin lukulaitteisiin seuraamalla ohjekeskuksen ohjeita.
