Applied Scanning Probe Methods I

· ·
· Springer Science & Business Media
E-raamat
476
lehekülge
Hinnangud ja arvustused pole kinnitatud.  Lisateave

Teave selle e-raamatu kohta

Examining the physical and technical foundation for recent progress with this technique, Applied Scanning Probe Methods offers a timely and comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. First it lays the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM.

Hinnake seda e-raamatut

Andke meile teada, mida te arvate.

Lugemisteave

Nutitelefonid ja tahvelarvutid
Installige rakendus Google Play raamatud Androidile ja iPadile/iPhone'ile. See sünkroonitakse automaatselt teie kontoga ja see võimaldab teil asukohast olenemata lugeda nii võrgus kui ka võrguühenduseta.
Sülearvutid ja arvutid
Google Playst ostetud audioraamatuid saab kuulata arvuti veebibrauseris.
E-lugerid ja muud seadmed
E-tindi seadmetes (nt Kobo e-lugerid) lugemiseks peate faili alla laadima ja selle oma seadmesse üle kandma. Failide toetatud e-lugeritesse teisaldamiseks järgige üksikasjalikke abikeskuse juhiseid.