Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

· Oxford University Press
كتاب إلكتروني
472
صفحة
مؤهل
لم يتم التحقّق من التقييمات والمراجعات.  مزيد من المعلومات

معلومات عن هذا الكتاب الإلكتروني

Due to its nondestructive imaging power, scanning tunneling microscopy has found major applications in the fields of physics, chemistry, engineering, and materials science. This book provides a comprehensive treatment of scanning tunneling and atomic force microscopy, with full coverage of the imaging mechanism, instrumentation, and sample applications. The work is the first single-author reference on STM and presents much valuable information previously available only as proceedings or collections of review articles. It contains a 32-page section of remarkable STM images, and is organized as a self-contained work, with all mathematical derivations fully detailed. As a source of background material and current data, the book will be an invaluable resource for all scientists, engineers, and technicians using the imaging abilities of STM and AFM. It may also be used as a textbook in senior-year and graduate level STM courses, and as a supplementary text in surface science, solid-state physics, materials science, microscopy, and quantum mechanics.

تقييم هذا الكتاب الإلكتروني

أخبرنا ما هو رأيك.

معلومات القراءة

الهواتف الذكية والأجهزة اللوحية
ينبغي تثبيت تطبيق كتب Google Play لنظام التشغيل Android وiPad/iPhone. يعمل هذا التطبيق على إجراء مزامنة تلقائية مع حسابك ويتيح لك القراءة أثناء الاتصال بالإنترنت أو بلا اتصال بالإنترنت أينما كنت.
أجهزة الكمبيوتر المحمول وأجهزة الكمبيوتر
يمكنك الاستماع إلى الكتب المسموعة التي تم شراؤها على Google Play باستخدام متصفح الويب على جهاز الكمبيوتر.
أجهزة القراءة الإلكترونية والأجهزة الأخرى
للقراءة على أجهزة الحبر الإلكتروني، مثل أجهزة القارئ الإلكتروني Kobo، عليك تنزيل ملف ونقله إلى جهازك. يُرجى اتّباع التعليمات المفصّلة في مركز المساعدة لتتمكّن من نقل الملفات إلى أجهزة القارئ الإلكتروني المتوافقة.