Kompetenzmessung in der Praxis: Mitarbeiterpotenziale erfassen und analysieren

·
· Springer-Verlag
ელწიგნი
48
გვერდი
რეიტინგები და მიმოხილვები დაუდასტურებელია  შეიტყვეთ მეტი

ამ ელწიგნის შესახებ

Die Autoren formulieren Anforderungen an bedarfsgerechte Kompetenzmesssysteme und erläutern praxiserprobte Systeme der Kompetenzdiagnostik. Sie zeigen, wie sich mit geeigneten Messsystemen Kompetenzen gezielt entwickeln und managen lassen. Die Kompetenzdiagnostik ist Grundlage für die strategische Personalarbeit. In der Praxis haben sich unterschiedliche Kompetenzmesssysteme herausgebildet, die den Anforderungen in unterschiedlichem Maße gerecht werden.

ავტორის შესახებ

Prof. Dr. Werner Sauter begleitet als wissenschaftlicher Leiter der Blended Solutions GmbH Unternehmen und Bildungsanbieter bei der Konzipierung, Umsetzung und Implementierung von Kompetenzmanagement-Systemen und kompetenzorientierten Lernsystemen. Er ist Diplom-Volkswirt und wurde in Pädagogischer Psychologie promoviert.

Anne-Kathrin Staudt ist verantwortlich für den Bereich Assessments und Kompetenzentwicklung der R&S The Competence House GmbH, einem Beratungsunternehmen, welches für Unternehmen, Organisationen und öffentliche Verwaltungen ganzheitliche Lösungen zum Kompetenzmanagement entwickelt und umsetzt.

შეაფასეთ ეს ელწიგნი

გვითხარით თქვენი აზრი.

ინფორმაცია წაკითხვასთან დაკავშირებით

სმარტფონები და ტაბლეტები
დააინსტალირეთ Google Play Books აპი Android და iPad/iPhone მოწყობილობებისთვის. ის ავტომატურად განახორციელებს სინქრონიზაციას თქვენს ანგარიშთან და საშუალებას მოგცემთ, წაიკითხოთ სასურველი კონტენტი ნებისმიერ ადგილას, როგორც ონლაინ, ისე ხაზგარეშე რეჟიმში.
ლეპტოპები და კომპიუტერები
Google Play-ში შეძენილი აუდიოწიგნების მოსმენა თქვენი კომპიუტერის ვებ-ბრაუზერის გამოყენებით შეგიძლიათ.
ელწამკითხველები და სხვა მოწყობილობები
ელექტრონული მელნის მოწყობილობებზე წასაკითხად, როგორიცაა Kobo eReaders, თქვენ უნდა ჩამოტვირთოთ ფაილი და გადაიტანოთ იგი თქვენს მოწყობილობაში. დახმარების ცენტრის დეტალური ინსტრუქციების მიხედვით გადაიტანეთ ფაილები მხარდაჭერილ ელწამკითხველებზე.