Large Deviations Techniques and Applications: Edition 2

·
· Stochastic Modelling and Applied Probability 38. grāmata · Springer Science & Business Media
E-grāmata
396
Lappuses
Atsauksmes un vērtējumi nav pārbaudīti. Uzzināt vairāk

Par šo e-grāmatu

Large deviation estimates have proved to be the crucial tool required to handle many questions in statistics, engineering, statistial mechanics, and applied probability. Amir Dembo and Ofer Zeitouni, two of the leading researchers in the field, provide an introduction to the theory of large deviations and applications at a level suitable for graduate students. The mathematics is rigorous and the applications come from a wide range of areas, including electrical engineering and DNA sequences.

The second edition, printed in 1998, included new material on concentration inequalities and the metric and weak convergence approaches to large deviations. General statements and applications were sharpened, new exercises added, and the bibliography updated. The present soft cover edition is a corrected printing of the 1998 edition.

Par autoru

Amir Dembo is a Professor of Mathematics and of Statistics at Stanford University.

Ofer Zeitouni is a Professor of Mathematics at the Weizmann Institute of Science and at the University of Minnesota.

Novērtējiet šo e-grāmatu

Izsakiet savu viedokli!

Informācija lasīšanai

Viedtālruņi un planšetdatori
Instalējiet lietotni Google Play grāmatas Android ierīcēm un iPad planšetdatoriem/iPhone tālruņiem. Lietotne tiks automātiski sinhronizēta ar jūsu kontu un ļaus lasīt saturu tiešsaistē vai bezsaistē neatkarīgi no jūsu atrašanās vietas.
Klēpjdatori un galddatori
Varat klausīties pakalpojumā Google Play iegādātās audiogrāmatas, izmantojot datora tīmekļa pārlūkprogrammu.
E-lasītāji un citas ierīces
Lai lasītu grāmatas tādās elektroniskās tintes ierīcēs kā Kobo e-lasītāji, nepieciešams lejupielādēt failu un pārsūtīt to uz savu ierīci. Izpildiet palīdzības centrā sniegtos detalizētos norādījumus, lai pārsūtītu failus uz atbalstītiem e-lasītājiem.