Microscopy of Semiconducting Materials: Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK
A.G. Cullis · John L. Hutchison
srpen 2006 · Springer Proceedings in Physics Kniha 107 · Springer Science & Business Media
E‑kniha
540
Stránky
reportHodnocení a recenze nejsou ověřeny Další informace
Podrobnosti o e‑knize
The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction.
Ohodnotit e‑knihu
Sdělte nám, co si myslíte.
Informace o čtení
Telefony a tablety
Nainstalujte si aplikaci Knihy Google Play pro Android a iPad/iPhone. Aplikace se automaticky synchronizuje s vaším účtem a umožní vám číst v režimu online nebo offline, ať jste kdekoliv.
Notebooky a počítače
Audioknihy zakoupené na Google Play můžete poslouchat pomocí webového prohlížeče v počítači.
Čtečky a další zařízení
Pokud chcete číst knihy ve čtečkách elektronických knih, jako např. Kobo, je třeba soubor stáhnout a přenést do zařízení. Při přenášení souborů do podporovaných čteček elektronických knih postupujte podle podrobných pokynů v centru nápovědy.
