Microscopy of Semiconducting Materials: Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK
A.G. Cullis · John L. Hutchison
2006-08 · Springer Proceedings in Physics 107 knyga · Springer Science & Business Media
El. knyga
540
Puslapiai
reportĮvertinimai ir apžvalgos nepatvirtinti. Sužinokite daugiau
Apie šią el. knygą
The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction.
Įvertinti šią el. knygą
Pasidalykite savo nuomone.
Skaitymo informacija
Išmanieji telefonai ir planšetiniai kompiuteriai
Įdiekite „Google Play“ knygų programą, skirtą „Android“ ir „iPad“ / „iPhone“. Ji automatiškai susinchronizuojama su paskyra ir jūs galite skaityti tiek prisijungę, tiek neprisijungę, kad ir kur būtumėte.
Nešiojamieji ir staliniai kompiuteriai
Galite klausyti garsinių knygų, įsigytų sistemoje „Google Play“ naudojant kompiuterio žiniatinklio naršyklę.
El. knygų skaitytuvai ir kiti įrenginiai
Jei norite skaityti el. skaitytuvuose, pvz., „Kobo eReader“, turite atsisiųsti failą ir perkelti jį į įrenginį. Kad perkeltumėte failus į palaikomus el. skaitytuvus, vadovaukitės išsamiomis pagalbos centro instrukcijomis.
