Microscopy of Semiconducting Materials: Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK
A.G. Cullis · John L. Hutchison
2006 оны 8-р сар · Springer Proceedings in Physics 107-р ном · Springer Science & Business Media
Электрон ном
540
Хуудас
reportҮнэлгээ болон шүүмжийг баталгаажуулаагүй Нэмэлт мэдээлэл авах
Энэ электрон номын тухай
The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction.
Энэ электрон номыг үнэлэх
Санал бодлоо хэлнэ үү.
Унших мэдээлэл
Ухаалаг утас болон таблет
Андройд болон iPad/iPhone-д Google Ном Унших аппыг суулгана уу. Үүнийг таны бүртгэлд автоматаар синк хийх бөгөөд та хүссэн газраасаа онлайн эсвэл офлайнаар унших боломжтой.
Зөөврийн болон ердийн компьютер
Та компьютерийн веб хөтчөөр Google Play-с авсан аудио номыг сонсох боломжтой.
eReaders болон бусад төхөөрөмжүүд
Kobo Цахим ном уншигч гэх мэт e-ink төхөөрөмжүүд дээр уншихын тулд та файлыг татаад төхөөрөмж рүүгээ дамжуулах шаардлагатай болно. Файлуудаа дэмжигддэг Цахим ном уншигч руу шилжүүлэхийн тулд Тусламжийн төвийн дэлгэрэнгүй зааварчилгааг дагана уу.
