Multi-Chip Module Test Strategies

· Frontiers in Electronic Testing 7. kniha · Springer Science & Business Media
E‑kniha
167
Počet strán
Hodnotenia a recenzie nie sú overené  Ďalšie informácie

Táto e‑kniha

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.
Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain.
Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).

Ohodnoťte túto elektronickú knihu

Povedzte nám svoj názor.

Informácie o dostupnosti

Smartfóny a tablety
Nainštalujte si aplikáciu Knihy Google Play pre AndroidiPad/iPhone. Automaticky sa synchronizuje s vaším účtom a umožňuje čítať online aj offline, nech už ste kdekoľvek.
Laptopy a počítače
Audioknihy zakúpené v službe Google Play môžete počúvať prostredníctvom webového prehliadača v počítači.
Čítačky elektronických kníh a ďalšie zariadenia
Ak chcete tento obsah čítať v zariadeniach využívajúcich elektronický atrament, ako sú čítačky e‑kníh Kobo, musíte stiahnuť príslušný súbor a preniesť ho do svojho zariadenia. Pri prenose súborov do podporovaných čítačiek e‑kníh postupujte podľa podrobných pokynov v centre pomoci.