Noncontact Atomic Force Microscopy

· ·
· Springer Science & Business Media
ইবুক
440
পৃষ্ঠা
মূল্যাংকন আৰু পৰ্যালোচনা সত্যাপন কৰা হোৱা নাই  অধিক জানক

এই ইবুকখনৰ বিষয়ে

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.

এই ইবুকখনক মূল্যাংকন কৰক

আমাক আপোনাৰ মতামত জনাওক।

পঢ়াৰ নির্দেশাৱলী

স্মাৰ্টফ’ন আৰু টেবলেট
Android আৰু iPad/iPhoneৰ বাবে Google Play Books এপটো ইনষ্টল কৰক। ই স্বয়ংক্রিয়ভাৱে আপোনাৰ একাউণ্টৰ সৈতে ছিংক হয় আৰু আপুনি য'তে নাথাকক ত'তেই কোনো অডিঅ'বুক অনলাইন বা অফলাইনত শুনিবলৈ সুবিধা দিয়ে।
লেপটপ আৰু কম্পিউটাৰ
আপুনি কম্পিউটাৰৰ ৱেব ব্রাউজাৰ ব্যৱহাৰ কৰি Google Playত কিনা অডিঅ'বুকসমূহ শুনিব পাৰে।
ই-ৰীডাৰ আৰু অন্য ডিভাইচ
Kobo eReadersৰ দৰে ই-চিয়াঁহীৰ ডিভাইচসমূহত পঢ়িবলৈ, আপুনি এটা ফাইল ডাউনল’ড কৰি সেইটো আপোনাৰ ডিভাইচলৈ স্থানান্তৰণ কৰিব লাগিব। সমৰ্থিত ই-ৰিডাৰলৈ ফাইলটো কেনেকৈ স্থানান্তৰ কৰিব জানিবলৈ সহায় কেন্দ্ৰত থকা সবিশেষ নিৰ্দেশাৱলী চাওক।