Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
J. Zemel
nóv. 2013 · NATO Science Series B Bók 46 · Springer Science & Business Media
Rafbók
782
Síður
reportEinkunnir og umsagnir eru ekki staðfestar Nánar
Um þessa rafbók
From September 19-29, a NATO Advanced Study Institute on Non destructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices was held at the Villa Tuscolano in Frascati, Italy. A total of 80 attendees and lecturers participated in the program which covered many of the important topics in this field. The subject matter was divided to emphasize the following different types of problems: electrical measurements; acoustic measurements; scanning techniques; optical methods; backscatter methods; x-ray observations; accele rated life tests. It would be difficult to give a full discussion of such an Institute without going through the major points of each speaker. Clearly this is the proper task of the eventual readers of these Proceedings. Instead, it would be preferable to stress some general issues. What came through very clearly is that the measurements of the basic scientists in materials and device phenomena are of sub stantial immediate concern to the device technologies and end users.
Gefa þessari rafbók einkunn.
Segðu okkur hvað þér finnst.
Upplýsingar um lestur
Snjallsímar og spjaldtölvur
Settu upp forritið Google Play Books fyrir Android og iPad/iPhone. Það samstillist sjálfkrafa við reikninginn þinn og gerir þér kleift að lesa með eða án nettengingar hvar sem þú ert.
Fartölvur og tölvur
Hægt er að hlusta á hljóðbækur sem keyptar eru í Google Play í vafranum í tölvunni.
Lesbretti og önnur tæki
Til að lesa af lesbrettum eins og Kobo-lesbrettum þarftu að hlaða niður skrá og flytja hana yfir í tækið þitt. Fylgdu nákvæmum leiðbeiningum hjálparmiðstöðvar til að flytja skrár yfir í studd lesbretti.
